2018年10月19日，由我校發起并聯合中國計量科學研究院、中國科學院長春光學精密機械與物理研究所、蘇州大學、中國科學院寧波材料技術與工程研究所共同舉辦的國際光電子與測量會議（ICOM2018）正式開幕。中國科學院上海分院院長、中國科學院院士王建宇研究員擔任大會主席。副校長俞曉平教授出席大會開幕式。

本次大會力求立足國際視野、突出光電前沿、彰顯計量特色、深化高端交流、助推學科進步與產業發展，吸引了來自意大利、荷蘭、加拿大、日本、新加坡、南非、加納、中國等多個國家和地區的90余位代表參會。參會人員中，有中科院院士2人，國際知名學會會士（fellow）4人，長江學者、國家杰青、其他國家級人才21人。會議的研究方向涵蓋了當今光電子與測量領域研究的新點和熱點。兩天的會議中，與會代表緊緊圍繞先進光電測量、計量、標準的主題，就光電子領域前沿技術與先進測量方法、產業發展方向等展開了交流，介紹光電子測量領域的最新發明應用與發展方向，探討了國內外先進光電子器件的科學、技術、材料、工藝等方面的問題。

中國科學院院士、長春光機所研究員王立軍，意大利國家科學院納米結構材料研究所總所所長Michele Muccini教授，長江學者、OSA會士、浙江大學教授劉旭，國際頂尖納米材料學家、浙江大學教授彭笑剛，國家杰青、長江學者、清華大學教授孫洪波，國家杰青、英國皇家學會會士、中國科學院半導體所研究員譚平恒，上海大學新型顯示技術及應用集成教育部重點實驗室主任張建華教授等在會上分別作了精彩的大會報告。王立軍院士在“激光在檢測領域中的應用”的大會報告中介紹了激光技術在物理量檢測、探索化學反應、醫學成像檢測和信息感知等領域的重要作用和應用，他將激光測量看作“改變世界的光”，他坦言道：“激光測量學推動人類走向光子時代、光制造時代、光信息時代，推動了人類認識世界和改造世界的進程?！眲⑿窠淌谠凇翱臻g頻率頻移在超分辨成像中的深層影響”的大會報告中介紹了其團隊獨創的FED（熒光輻射微分顯微術）技術，提升了現有系統的成像分辨率，首次實現了片上的大視場、遠場、無標記的超分辨顯微成像，分辨率較傳統顯微方法提升了5倍，且其視場比以往報道的無標記型遠場超分辨顯微方法擴展了2個數量級。北京大學肖立新教授、上海交通大學陳俊超教授、西安交通大學吳朝新教授、中山大學王凱教授、吉林大學馮晶教授、廈門大學孫志軍教授、蘇州大學胡劍凌教授、蘇州大學李孝峰教授、太原理工大學王華教授、南京工業大學安眾福教授、天津理工大學印壽根教授、荷蘭萊頓大學Grégory F. Schneider教授、新加坡南洋理工大學材料工程學院Zheng Liu教授、中科院福建物質結構研究所鄭慶東研究員，寧波材料技術與工程研究所葛子義研究員，中國計量大學董新永研究員、彭應全教授、趙春柳教授等，分別圍繞相關主題作了思維新穎、內容豐富的分會報告和邀請報告。

會議于10月20日下午閉幕。會議為來自多個國家和地區的光電測量行業專家學者提供了學術交流平臺，為行業及產業發展提供了新思路。本次會議是我校慶祝建校40周年的重要活動之一，與會專家在參會的同時感受到了我校校慶的喜慶氛圍，加深了對中國計量大學及相關學科的了解。會議的舉辦，對擴大學校及學科的國內外影響力具有長遠意義。